系新科技推出银贯孔测试解决方案

 
　　Ω超低电阻量测
　　超高点数
　　银贯孔阻值测试条件至少50mΩ，传统Bare Board Tester阻值测试规格仅达2Ω ~ 5Ω，对银贯孔测试根本束手无策。系新科技独家推出银贯孔测试解决方案， 采用四线式量测至20mΩ，满足您对低阻测试之需求。其特性如下：
　　§      四线式20mΩ超低电阻精密量测
　　§      可扩充至4096超高点数
　　§      测试速度快，达1秒/1024点
　　银贯孔测试机
　　特性
　　·      20mΩ ~ 40MΩ银贯孔测试
　　·      自动开短路、组件学习功能
　　·      连板展开及连板测试功能
　　·         WINDOWS窗口操作接口
　　·      测试报表及测试统计分析功能